光刻过程的典型步骤是匀胶,盖上掩模板,光刻,显影,制备微米级或纳米级的图形。
目前光刻图形化使用的掩模版常为均胶铬板,即在高洁净度、平整度的玻璃(苏打玻璃或石英玻璃)上镀铬金术,覆盖一层防反射物质(Anti-Reflective,AR),最后涂一层感光胶制备而成。
光刻胶也叫光阻聚合物,像胶水一样粘稠。和相机的底片感光一样,在受到照射后会发生变化,非化学放大型光刻胶分为正胶、负胶以及双型胶
光刻系统常分为接触式、透射投影式和反射投影式。
以负胶为例,在进行光刻时,被曝光的光刻会胶形成不溶于显影液的交联聚合物,未被曝光的部分会被显影液分解掉。
为波长,s为光学掩模和光刻胶的距离,Z为光刻胶厚度,NA为数值孔径,k为与实际相关的系数,在0.5~1.0间,一般为0.8
光源采用波长短的紫外光
光刻工艺是利用类似照相制版的原理,在半导体晶片表面的掩膜层上面刻蚀精细图形的表面加工技术。也就是使用可见光和紫外光线把电路图案投影“印刷”到覆有感光材料的硅晶片表面,再经过蚀刻工艺去除无用部分,所剩就是电路本身了。光刻工艺的流程中有制版、硅片氧化、涂胶、曝光、显影、腐蚀、去胶等。
光刻是制作半导体器件和集成电路的关键工艺。自20世纪60年代以来,都是用带有图形的掩膜覆盖在被加工的半导体芯片表面,制作出半导体器件的不同工作区。随着集成电路所包含的器件越来越多,要求单个器件尺寸及其间隔越来越小,所以常以光刻所能分辨的最小线条宽度来标志集成电路的工艺水平。国际上较先进的集成电路生产线是1微米线,即光刻的分辨线宽为1微米。日本两家公司成功地应用加速器所产生的同步辐射X射线进行投影式光刻,制成了线宽为0.1微米的微细布线,使光刻技术达到新的水平。
涂胶,曝光,显影。
涂胶又分HMDS,Coat,Softbake三步,显影分PEB,Develop,Hardbake三步。
连续喷雾显影/自动旋转显影。一个或多个喷嘴喷洒显影液在硅片表面,同时硅片低速旋转(100~500rpm)。喷嘴喷雾模式和硅片旋转速度是实现硅片间溶解率和均匀性的可重复性的关键调节参数。
扩展资料:
决定光刻胶涂胶厚度的关键参数:光刻胶的黏度(Viscosity),黏度越低,光刻胶的厚度越薄;旋转速度,速度越快,厚度越薄;
影响光刻胶均匀性的参数:旋转加速度,加速越快越均匀;与旋转加速的时间点有关。
一般旋涂光刻胶的厚度与曝光的光源波长有关(因为不同级别的曝光波长对应不同的光刻胶种类和分辨率):I-line最厚,约0.7~3μm;KrF的厚度约0.4~0.9μm;ArF的厚度约0.2~0.5μm。
参考资料来源:百度百科-光刻
1. wafer 表面处理;
2. 旋涂光刻胶(包括抗反射层)
3. 前烘;
4. 曝光;
5. 后烘;
6. 显影,有的需要在显影前进行坚膜;
7. 刻蚀
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